基本信息 產(chǎn)地：美國 訂貨量：≥1臺 價格：請咨詢在線客服 型號：3086 品牌：TSI

 

產(chǎn)品詳情

 

該3086型1nm-DMA差分靜電遷移分析儀一般和TSI 3082型靜電分級器 、 3777型納米增強(qiáng)儀 以及凝聚粒子計數(shù)器 配套使用，且該分析儀工作流程已經(jīng)被最優(yōu)化，不但能夠?qū)⑸⒁輷p失降至 最低，而且能夠提高1nm到50nm顆粒物的粒徑測量的粒徑 分辨率。

 

特點和優(yōu)勢

 

分析從1到50nm粒徑的顆粒物

SMPS（掃描電遷移粒徑譜儀）的關(guān)鍵組件

 

應(yīng)用

 

顆粒物粒徑測量